9月22日至24日，由美國食品藥品管理局（FDA）與復雜仿制藥研究中心（CRCG）聯(lián)合舉辦的“掌握顆粒粒度分析：技術與最佳實踐的逐步解析”研討會在美國馬里蘭州Shady Grove大學順利召開。作為制藥領域顆粒分析的重要會議，本次研討會僅邀請7家國際領先的顆粒分析儀器制造商參與，聚焦制藥研發(fā)與質量控制中的關鍵技術議題。百特儀器作為唯一受邀的中國制造商，在會議上展示了在顆粒表征領域的技術實力與創(chuàng)新成果。

百特美國團隊的兩位專家在會議上發(fā)表了專題報告：Kiwan Park分享了《為何將激光衍射與圖像分析結合，正在成為顆粒表征的新標準》，Matthew McGann則圍繞《DLS、SLS與ELS技術數(shù)據(jù)質量研究》展開深入解析。兩場報告內容詳實、視角前沿，不僅受到現(xiàn)場專家的高度關注，也充分展現(xiàn)了百特在微米級和納米級顆粒表征方面的技術積累與應用能力。

會議期間，百特與來自FDA、全球知名制藥企業(yè)及科研機構的專家進行了深入交流，共同探討制藥領域顆粒分析的前沿趨勢與實踐經驗。通過此次參會，百特進一步提升了在國際制藥領域的影響力，也讓更多行業(yè)伙伴認識到中國儀器制造企業(yè)的創(chuàng)新能力。

百特衷心感謝FDA與CRCG對本次研討會的精心組織，也感謝每一位與會嘉賓的積極參與和熱烈交流。未來，百特將繼續(xù)秉持“持續(xù)創(chuàng)新、精益求精”的理念，為全球科研及制藥行業(yè)提供更精準、更可靠的顆粒分析解決方案。