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使用激光粒度儀進行粒度測試，是目前應用zui廣泛的一種粒度測試方法。早期的激光粒度儀用弗朗和費理論，這種理論不需要樣品折射率，但對小于5微米的樣品誤差較大。為了使激光粒度儀測量細樣品的精度更高,當今大部分粒度儀都采用Mie散射理論，這是一種描述顆粒對激光散射規(guī)律的理論，但Mie散射理論進行計算時需要用到樣品的折射率和吸收率，如果折射率選擇的不對就會影響粒度結果的準確性。下面介紹幾個簡單獲取樣品折射率和吸收率的方法。1、軟件中查找。正規(guī)激光粒度儀在出廠時，軟件中都會提供折射率存...

半導體激光器又稱激光二極管（LaserDiode，LD），是二十世紀八十年代半導體物理發(fā)展的成果之一。半導體激光器的優(yōu)點是體積小、重量輕、可靠性好、使用壽命長、功耗低。此外，半導體激光器采用低電壓恒流供電方式，電源故障率低、使用安全，維修成本低。目前，半導體激光器的使用數量居所有激光器，某些重要的應用領域，過去常用的其他激光器，已逐漸被半導體激光器所取代。此外，半導體激光器品種繁多，既有波長較長的紅外、紅光，也有波長較短的綠光、藍光，可以利用這些優(yōu)勢拓展激光粒度儀的測量范圍，...

米氏散射理論是通過麥克斯韋電磁理論嚴格推導出的、用來描述表面光滑的球體對光的散射規(guī)律的解析解。它考慮了散射體（顆粒）的光學特性（折射率和吸收系數）以及介質的光學特性。由于米氏理論考慮了樣品的折射率、吸收率、反射率，考慮了介質的折射率等因素，因此它對具有不同光學特性的樣品都能得到解析解，由此得到的粒度測試結果更準確，并且適用于從超細的亞微米級顆粒到較粗的毫米級顆粒，是現代激光粒度儀普遍采用的理論基礎。雖然米氏散射理論運算起來更復雜，但在計算機技術如此發(fā)達的今天，這已經不是什么缺...

從使用角度來講，可以通過觀察背景狀態(tài)來快速判斷激光粒度儀是否正常。如果背景值大于4或直方圖形狀凸凹不平說明對中不良，背景值小于0.3說明激光器亮度下降；背景直方圖長度超過20個通道，說明樣品池臟換或結霧，需要清洗或處理；在背景坐標的右邊有背景信號，需要檢查樣品池和介質是否干凈。不同品牌的激光粒度儀，背景的圖形形式可能有所不同，但無論如何，背景都是在激光穿過充滿純凈介質的樣品池后各個角度探測器上接受到的光信號。它能直接反映儀器的狀態(tài)是否正常，因此通過觀察背景狀態(tài)，就可以快速判斷...

激光粒度儀良好的背景狀態(tài)必須同時具備以下五點：數值較低（1-3）、長度短（占20個通道以內）、形狀斜（從左逐漸遞減）、位置左（位于坐標zui左側）和穩(wěn)定。影響激光粒度儀的背景狀態(tài)的因素有以下原因：一是對中不良，二是樣品池粘附顆?；蚪Y霧，三是介質不干凈，四是激光器老化。此外像樣品池中沒有介質、環(huán)境空氣中灰塵太多、富氏透鏡臟等也可能造成背景狀態(tài)異常。如果出現背景異常，首先要檢查樣品池和透鏡是否干凈，然后檢查樣品池中是否有介質和介質是否有雜質，再檢查對中狀態(tài)是否良好。如果這些都正常...